Helium Ion Microscopy
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Helium Ion Microscopy
Hlawacek, Gregor; Goelzhaeuser, Armin
Springer International Publishing AG
10/2016
526
Dura
Inglês
9783319419886
15 a 20 dias
9457
Descrição não disponível.
Introduction- Microscopy.- Analytics- Nanoengineering.
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Atomic scale simulation of ion scattering;Gas field ion source;Helium ion microscopy;High-resolution imaging;Imaging of biological samples;Ion Beam techniques;Microscopy contrast formation;Monte Carlo simulation of sputter yields;Nanofabrication;SIMS in HIM
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